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探针台测试原理

来源:http://www.lh-ky.com/news/74.html  发布时间 : 2018-12-28

探针台测试原理

1. 探针台产品系列中包含了各类电学测试,如:通用类直流测试探针台,真空系列低温及高温探针台,高低温真空四探针测试台,高频/微波/射频类HF探针台以及磁场环境、封闭式环境探针台等。详细产品信息可来电咨询。
2.  关于探针台的配置,需要根据您的测试环境,测试要求,精度,样品尺寸及分辨率等进行组件配置,如下简述:
     a.首先根据测试环境选择探针台类型,如:大气环境下常温或高低温,封闭式环境,真空高低温环境,磁场环境等.
     b.选择测试需求,直流、高频
     c.选择测试精度,如漏电流参数,加载电流参数,是否为功率器件或高频测试频率等..
     d.选择探针测试数量,探针操作装置精度等
     e.选择光学显微镜,根据需要点针的电极或其它样品的分辨率选择低倍或高倍显微镜
     f.根据样品外形尺寸选择XYZ平台行程范围及Chuck卡盘
     g.其它可选外围组件的选择,如:加热卡盘、冷却装置、屏蔽箱,隔振台等.......

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