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霍尔效应测试仪介绍

来源:http://www.lh-ky.com/news/52.html  发布时间 : 2018-09-10

霍尔效应测试仪介绍

      霍尔效应测试仪,是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。

      该仪器为性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助。可说是一套功能强大、应用广泛的系统,再加上平实的价格, 相信必能受到各界用户之肯定与爱用。广泛应用于半导体厂商。
      北京蓝海科仪新研发的高低温霍尔测试仪是在室温测试仪的基础上,增加了高低温恒温器选件。包括高低温恒温器和控温仪,其中低温选件可实现温度在80K-300K范围内任意控制,高温选件可实现温度在80K-500K范围内任意控制。通过高低温选件可实现变温霍尔效应的测试。

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