霍尔效应测试系统的应用与特性

霍尔效应测试系统的应用与特性

霍尔效应测试系统的应用

霍尔效应测试系统用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数，而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的，因此霍尔效应是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的。

霍尔效应系统的特性
1、可靠的精度及重现性
2、产品小型化及操作简单化
3、I-V曲线及I-R曲线测量

霍尔效应系统的参数
磁场范围：0.45T~2T；
电阻测量范围: 1x10-3 Ohm - 1x109 Ohm
电阻率测量范围: 1 x10-5 Ohm*cm - 1x107 Ohm*cm
载流子浓度范围: 107 cm-3 - 1021 cm-3
输出电阻: typical 1013 Ohms
电流分辨率: 25 pA
测量范围: 10 mV - 10V（自动量程选择）
分辨率 : <500nV
输入电阻: > 1013 Ohms
测量范围: 1nA - 10 mA
输出电压: +/- 10V (+/-20V)