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霍尔效应测量系统你了解吗

来源:http://www.lh-ky.com/news/164.html  发布时间 : 2020-09-09

霍尔效应测量系统仪器简介:
欧洲高性能霍尔效应测量系统,广泛应用于半导体材料、低阻材料和高阻材料等物理性能的研究;可对多种重要物理参量如:电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率、磁电阻和V-I曲线等测量和分析;

可测试材料:
半导体材料:包括 SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, and HgCdTe,砖石铁,氧体材料;
低阻材料:包括金属、透明氧化物、稀磁半导体器件和TMR材料
高阻材料:包括半导体绝缘材料、GaAs、GaN、CdTe和光电探测器



技术参数:
电流源:
测量范围: 1nA - 10 mA
输出电压: +/- 10V (+/-20V)
输出电阻: typical 1013 Ohms
电流分辨率: 25 pA

电压测量:
测量范围: 10 mV - 10V(自动量程选择)
分辨率 : <500nV
输入电阻: > 1013 Ohms

磁场范围:0.45T~2T(牛津磁体);

电阻测量范围: 1x10-3 Ohm - 1x109 Ohm
电阻率测量范围: 1 x10-5 Ohm*cm - 1x107 Ohm*cm
载流子浓度范围: 107 cm-3 - 1021 cm-3

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