来源:http://www.lh-ky.com/news/164.html 发布时间 : 2020-09-09
霍尔效应测量系统仪器简介:
欧洲高性能霍尔效应测量系统,广泛应用于半导体材料、低阻材料和高阻材料等物理性能的研究;可对多种重要物理参量如:电阻率、霍尔系数、载流子浓度、迁移率、磁电阻和V-I曲线等测量和分析;
可测试材料:
半导体材料:包括 SiGe, SiC, InAs, InGaAs, InP, AlGaAs, and HgCdTe,砖石铁,氧体材料;
低阻材料:包括金属、透明氧化物、稀磁半导体器件和TMR材料
高阻材料:包括半导体绝缘材料、GaAs、GaN、CdTe和光电探测器
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